| 产品特性：无 | 是否进口：否 | 产地：日本 |
| 类型：非接触式 | 品牌：基恩/士 | 型号：VK-X250/X260 |
| 目镜放大倍数：10000 | 物镜放大倍数：188 | 仪器放大倍数：22 |
| 重量：44g | 适用范围：芯片 半导体 | 装箱数：1 |
| 加工定制：否 | 规格：233 |
非接触式3D测量系统，几乎可在任何材料上进行纳米级剖面、粗糙度与厚度测量。
[全新] 遵照国际规格 *** 25178，可计算平面的各种参数的追加模块软件。
[全新] 数码显微系统观察
16 bit 激光彩色观察
倍率至28800倍
[广视野] WIDE-Scan
[简便] AI-Scan
高分辨率，大景深观察
仿佛彩色 SEM
